能量色散X射線螢光

XRF分析方法的最後一個關鍵組成部分是探測器，它接收螢光輻射並以最高的精度進行測量。來自探測器的資訊被傳遞到分析軟體並進行相應處理。探測器的類型決定了您可以使用XRF光譜儀解決哪些測量任務。
我們提供市場上最全面的探測器組合。這意味著只有在Fischer，您才能找到適合您的測量任務並以最佳方式解決它的探測器。有三種類型各具特定優勢的探測器。

在測量技術專家的組合中，久經考驗的比例計數器（PC）管是不可或缺的。它提供了一個巨大的探測器區域，帶有一個略微彎曲的視窗。這個特點使它在大量螢光信號到達探測器時，能夠實現高計數率。它可以在距離樣品20–80 mm處進行測量。PC管通常用於1–30µm範圍內的塗層厚度測量和小測量點。另一個優點是，PC管對樣品與探測器對準的精度和測量距離設置的敏感性比較低。PC管配合Fischer開發的漂移補償為標準，提供了卓越的穩定性。

對於要求更高的鍍層厚度測量，需要更高的能量解析度。在這種情況下，使用矽PIN二極體的XRF分析儀是一個很好的選擇。這種半導體探測器也可以成功地用於簡單的材料分析。因此，矽PIN探測器是我們探測器產品組中完美的中間環節。

高品質XRF光譜儀使用矽漂移檢測器（SDD）。這種探測器是最強大的。它具有特別好的能量解析度和特別高的檢測靈敏度。因此，在測試材料的元素組成時，SDD提供了所有探測器中最好的性能。樣品中僅以極低濃度存在的元素的螢光信號也能很容易檢測到。此外，配備SDD的儀器可精確確定奈米範圍內的鍍層厚度，並允許對複雜的多層結構進行可靠評估。