正確校正

只有經過嚴格校正，測量儀器才能給出正確的結果。 在這裡，我們回答一些關於當你在校正儀器時應該考慮的一些問題。

在校正過程中，將測試儀器的讀數與被測物體的實際特性（通常是具有已知值的標準件）進行比較。 層厚就是這樣一種特性。如果剛測得的值偏離了已知值，則必須調整儀器。對於所有Fischer的接觸式塗層測厚儀，這兩個功能都包含在“校正”功能選單下。

校正過程中應依照相同的條件，在隨後的實際測量過程中也應如此。如果要測量塗層的厚度，應先在未塗層的原始工件上校正儀器。校正時，在未塗層工件上使用與測量塗層工件相同的位置。

一般來說，只要測量條件發生變化，就應重新校正儀器。例如，如果基材的成份發生變化，或者如果您從測一個平坦的位置轉而開始測一個彎曲的位置，則可能需要重新校正，這取決於所使用的測量方法。

在大多數儀器上，您可以選擇快速的單點校正和全面的多點校正。 如果要測量的值都非常接近，則快速校正通常就足夠了。例如，如果塗層的厚度在10到15μm之間變化，那麼用一個13μm的標準片來校正儀器就足夠了。如果厚度範圍較大，建議進行多點校正；目標值應能覆蓋預期的塗層厚度範圍。

會影響測量結果的常見因素。如果其中一個因素發生明顯變化，應重新校正儀器：

• 測量表面的曲率
• 對於薄樣品：基材厚度
• 對於小樣品：樣品尺寸
• 粗糙度
• 基材或塗層材料的成份和磁化能力
• 對於導電率測量：溫度