校正 常見問題

幾十年來，菲希爾一直代表著最高品質和精度的測量儀器。我們在測量技術領域積累的專有技術不僅用於測量儀器的製造，還用於測量儀器校驗等相關服務。關於正確的校驗，我們在下面為您總結了重要的問題和答案。

在下文中，您將看到有關塗層測厚儀校驗和XRF光譜儀校驗的重要問題。

正常化會對當前測量任務的設置和基材設定進行調整。如果主濾波器或陽極電流以及準直器的設置被調整過了，則必須進行正常化。如被測樣品的合金成分或基材成分發生了變化，也需進行正常化。

接下來您應該進行設備管控。您可以透過重新測試標準片來檢查儀器。如未得到正確的數值，則需要進行調整。

 

基準測量是對能量軸的一次新的校正。在不同溫度的影響下，與比例接收器的校正有關。

為了驗證校正結果，您需要在選單位置“產品”，“測量CAL”中重新測量校正標準。如果你發現存在差值，則儀器需要再次校正。

這取決於使用頻率，客戶可自行決定。一般為1-3年一次。

 

是可以的。有一個簡單的使用準則：對於配備比例接收器的儀器，可以疊加2-3片標準箔。對於帶有PIN/SDD探測器的儀器，只可以疊加一片標準箔。

 

不是必要的。你不需要重新認證純元素塊，因為元素的厚度是飽和的，所以非常穩定。

 

在這裡，WinFTM是在要求測量基材材料。請將校正標準片中無鍍層的基材和被測樣品還未進行電鍍的基材進行放置和測量。注意：如果儀器上放置了錯誤的東西，這會嚴重影響結果的正確性！

具有ISO 17025證書的校正標準片是按照認證機構定義的嚴格程式進行測量的；與製造商證書的校正標準相比，它們的測量不確定性更小。