最新的XRF系列產品線FISCHERSCOPE XUL或XULM很小巧，可以安裝和使用在生產、裝運或接收區域附近，也可以在實驗室中使用。Helmut Fischer集團還提供可擕式手持XRF儀器。
除了X射線源外，X射線測量系統的主要組成部分是探測器。探測器的品質決定了哪些測量任務可以用一台儀器來解決。 Fischer提供三種不同類型的探測器。
比例計數管是一個充氣的管子。它是一個久經考驗的探測器，可用於簡單的測量任務，非常適合測量含有小測量點的較厚鍍層。如果樣品的被激發出來的信號能很好地分離，也就是說，元素之間有很大的不同 (例如，銅基底上的錫鍍層), 那麼比例計數管會做得很好。
如果樣品很複雜-有許多元素或特徵峰嚴重重疊的（相鄰的原子序數），那麼矽探測器是首選，甚至是必需的。這裡，Fischer提供帶矽PIN二極體（Si-PIN）或矽漂移檢測器（SDD）的型號。兩者都有更好的能量解析度，能比比例計數管提供更好的峰/背比（信噪比）回應。矽PIN是一個中階的探測器。雖然它可以用於材料分析和厚度測量，但對於較小的測量點，它需要更長的測量時間。SDD是新款的半導體探測器，具有卓越的解析度和最佳的測量極限。它的優勢在於在測量奈米級的非常薄的鍍層，還能進行PPM級的材料分析。
鍍液的金屬含量分析
為了以明確的電鍍速率和明確的成份塗覆塗層，電鍍公司必須非常密切地監控其鍍液的配方。例如，特別是在珠寶行業流行的金屬鍍層（如AuCuCd、AuCuIn、RhRu或其他）必須完全均勻地鍍在整個表面上，以確保顏色均勻。
透過選配電鍍液分析附件（見圖3），所有Fischer XRF儀器都可以方便地進行電鍍溶液分析。 首先，在專用的的測試杯裡裝滿要分析的溶液，然後用一層薄而結實的聚脂薄膜覆蓋，並用一個塑膠環密封——這都是溶液分析附件的一部分。可使用不同基底的測試杯。選擇正確的材料可以大大提高測量性能。溶液中的基體效應（Cl，SO4，CN）可以透過測量杯基底材料（如Mo或Ni）的螢光輻射吸收來校正。
與其他方法相比，這種溶液的XRF（X射線螢光）分析方法非常簡單：樣品備製非常快，唯一需要的消耗品是一小片的塑膠薄膜，與其他使用氣體（Ar）或純淨水的分析方法不同。
