導線架

為了迎合行業的需求，導線架中的鍍層（例如：金、鈀和鎳）越來越薄（低至幾奈米）。因此，Fischer開發了高精度的X射線螢光儀器來滿足這種異常困難的測試應用。Fischer的X射線儀器可以同時測量厚度和成份，短時間的測量就能獲得高重複性的測量結果。